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  12 results found for 1 Woche , Rasterelektronenmikroskope , Not yet expired
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Raith Electron-Beam Lithography Hardware And Software Upgrade

Staat:  Irland

Art: Auftragsvergaben

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Veröffentlicht
Apr 29, 2025
Ads For Formalization Of Contracts Of: Presidency Of The State Agency Higher Council For Scientific Research, M.P. Object: Supply And Installation Of An Electronic Field Broadcasting Microscope With X -Ray Detector, Aimed At The Barcelona Microelectronics Institute Of The State Agency Higher Council For Scientific Research. File: 33126/25.

Staat:  Spanien

Art: Auftragsvergaben

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Veröffentlicht
Apr 29, 2025
Supply Of An Electronic Microscope In Scanning

Staat:  Frankreich

Art: Ausschreibung

Finanzierungsinstitut:   European Union

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Veröffentlicht
Apr 29, 2025
Notice Of Market Investigation To Verify Uniqueness Supplier Pursuant To Art. 76 C. 2 Lett. B) Of Legislative Decree No. 36/2023 - Supply Of An Electronic Microscope With Sem Scan

Staat:  Italien

Art: Procurement Plan

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Veröffentlicht
Apr 29, 2025
Precise Ion Beam Based Trenching Tool (Imws-03.2) + High Performance Ga-Fib Sample Preparation (Imws-08.1) + High Performance Analyical Sem Inspection (Imws-08.2) - Pr924050-2690-P

Staat:  Deutschland

Art: Ausschreibung

Finanzierungsinstitut:   European Union

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Veröffentlicht
Apr 28, 2025
3D Lit-Obirch System (Imws-2.1) +Scanning Electron Microscope With Ultrafast E-Beam Operation (Imws-3.1 ) - Pr876527-2690-P

Staat:  Deutschland

Art: Ausschreibung

Finanzierungsinstitut:   European Union

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Veröffentlicht
Apr 28, 2025
Itq For Supply, Delivery, Installation, Testing And Commissioning Of One (1) Unit Of Semi-Motorized Fluorescence Inverted Microscope For The Department Of Chemical And Biomolecular Engineering

Staat:  Singapur

Art: Ausschreibung

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Veröffentlicht
Apr 28, 2025
Precise Ion Beam Based Trenching Tool (Imws-03.2) + High Performance Ga-Fib Sample Preparation (Imws-08.1) + High Performance Analyical Sem Inspection (Imws-08.2) (Pr924050-2690-P)

Staat:  Deutschland

Art: Ausschreibung

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Veröffentlicht
Apr 27, 2025
3D Lit-Obirch System (Imws-2.1) +Scanning Electron Microscope With Ultrafast E-Beam Operation (Imws-3.1 ) (Pr876527-2690-P)

Staat:  Deutschland

Art: Ausschreibung

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Veröffentlicht
Apr 27, 2025
Supply And Installation Of An Electronic Microscope Of Field Broadcasting With X -Ray Detector, Destined For The Barcelona Microelectronics Institute Of The State Agency Higher Council For Scientific Research.

Staat:  Spanien

Art: Auftragsvergaben

Finanzierungsinstitut:   European Union Agency

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Veröffentlicht
Apr 25, 2025
Supply And Installation Of An Electronic Microscope Of Field Broadcasting With X -Ray Detector, Destined For The Barcelona Microelectronics Institute Of The State Agency Higher Council For Scientific Research.

Staat:  Spanien

Art: Auftragsvergaben

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Veröffentlicht
Apr 25, 2025
Open Procedure Above Community Threshold Pursuant To Art. 71 Of Legislative Decree N. 36/2023 For The Assignment Of The Supply, Installation And Putting In Function Of A Focused Ionic Bundle Microscope (Fib) Combined With An Electronic Microscope With Scanning (Sem) For The Preparation Of Samples For Electronic Microscopy As Part Of The Pnrr M4 C2 Investment 3.1 Idrastra@Enl Project

Staat:  Italien

Art: Ausschreibung

Finanzierungsinstitut:   European Union

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Veröffentlicht
Apr 24, 2025