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Tct Scan System For Eic Experiment Semiconductor Measuring Instrument Development

Ausschreibung

Allgemeine Informationen
   Nov 12, 2025
   Japanisch
   andere
   veröffentlicht: Nov 12, 2025

Originaltext

一般競争入札
2025年
11月12日
2025年
11月28日
2025年
12月09日
EIC実験半導体測定器開発用TCTスキャンシステム
和光調達第1課



物品の購入等
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調達案件名
EIC実験半導体測定器開発用TCTスキャンシステム
















調達形態
公告日
入札締切日
開札日
調達部署
担当


一般競争入札
2025年11月12日
2025年11月28日
2025年12月09日
和光調達第1課
吉川　実樺子
050-3500-6682





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EIC実験半導体測定器開発用TCTスキャンシステム(PDF 版 169KB)




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