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Precise Ion Beam Based Trenching Tool (Imws-03.2) + High Performance Ga-Fib Sample Preparation (Imws-08.1) + High Performance Analyical Sem Inspection (Imws-08.2) (Pr924050-2690-P)

Ausschreibung

Allgemeine Informationen
   Apr 27, 2025
   Deutsch
   Nationale Ausschreibung
   veröffentlicht: Apr 27, 2025

Originaltext

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Ausschreibung Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)

Vergabe PR924050-2690-P








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